• Язык
    • Русский
    • English
    • German
    • Spanish
    • Vietnamese
    • French
    • Arabic
    • Chinese
    • Hindi
    • Mongolian
  • Карта сайта
  • Написать нам
  • Вход
НИТУ МИСиС
  • Об университете
    • Структура университета

Оборудование центра

  • Наука
  • Научный комплекс
  • Научные лаборатории и центры(old)
  • Центр коллективного пользования
  • Структура ЦКП
  • Проводимые работы
  • Оборудование центра
    • Электронный оже-спектрометр PHI-680
    • Многоцелевые автоматизированные рентгеновские дифр
    • Сканирующий ионный микроскоп Strata 201 SIMSmapIII
    • Полевой эмиссионный растровый электронный микроско
    • Растровый электронный микроскоп JSM-6480LV
    • Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100
    • Быстросканирующий инфракрасный Фурье-спектрометр
    • Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA
    • Последовательный рентгенофлуоресцентный спектромет
    • Оптический микроскоп Axio Imager D1
    • Технологическая установка ULVAC CN-CVD-100
    • Оборудование для механических испытаний
    • Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-5500
    • Вторичный ионный масс-спектрометр PHI-6600
  • Механические испытания
    • Универсальная испытательная машина Z250
    • Машина для испытаний HB250
    • Машины для испытаний RRM-A2
    • Машины для испытаний M3
    • АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ТВЕРДОМЕР 930N
    • АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ МИКРОТВЕРДОМЕР 402MVD
    • МАЯТНИКОВЫЙ КОПЕР DYNATUP POE2000
  • Адрес и контакты
  • Электронный оже-спектрометр PHI-680 фирмы “Physical Electronics”
  • Многоцелевые автоматизированные рентгеновские дифрактометры фирмы Bede D1 System и фирмы Bruker
  • Сканирующий ионный микроскоп Strata 201 SIMSmapIIIxP фирмы FEI Company
  • Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F фирмы Jeol
  • Растровый электронный микроскоп модели JSM-6480LV фирмы Jeol
  • Просвечивающий электронный микроскоп модели JEM-2100 фирмы Jeol
  • Быстросканирующий инфракрасный Фурье-спектрометр IFS-66V/S фирмы Bruker
  • Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA фирмы NT-MDT (Россия)
  • Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 фирмы Шимадзу
  • Оптический микроскоп Axio Imager D1 фирмы «Carl Zeiss»
  • Технологическая установка получения алмазоподобных пленок и углеродных нанотрубок ULVAC CN-CVD-100
  • Оборудование для механических испытаний
  • Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-5500 фирмы “Physical Electronics”
  • Вторичный ионный масс-спектрометр PHI-6600 фирмы “Physical Electronics”

Сегодня НИТУ «МИСиС» - один из ведущих научно-исследовательских и образовательных центров.

Приемная комиссия: Главный корпус (Корпус "Б") - Ленинский проспект, д. 4
Телефон: +7 (495) 638-46-78
Email: vopros@misis.ru

Школьный факультет НИТУ "МИСиС" и Департамента образования г. Москвы
Официальный сайт
Email: in-center@misis.ru

Подпишись на рассылку новостей, чтобы быть в курсе последних событий!

Чтобы продолжить пройдите регистрацию или сделайте вход на сайт.

© МИСиС, 2019

 ЦКП "Материаловедение и металлургия"